NEWS RELEASE ニュースリリース

第15回組込みシステム開発技術ESEC 出展のご報告

ESEC2012 ご来場御礼

2012年 5/09(水)~5/11(金)東京ビッグサイトで開催された、「組込みシステム開発技術展」(ESEC2012)へ出展致しました。皆様より多数のご来場をいただきましたことに、改めて感謝申し上げます。

組み込み開発技術展2012

出展報告

組込みシステム開発技術展ESECは(主催:リード エグジビション ジャパン株式会社)は、組込みシステム開発に必要なハードウェア・ソフトウェア・コンポーネントから開発環境までが一堂に集まる日本最大の専門展です。
ダイチューでは、組み込みに必要なHDDとSSDの試験装置、8セルタイプの「HDD/SSD Tester D010」と小型軽量2セルタイプの「HDD/SSD Tester D020」、今年から販売開始している温度ストレス試験が可能な新製品「HDD/SSD TesterD030CHM」、参考出展としてスクリーニングサービスやコピーサービスに弊社が使用している「HDD/SSD Tester D040」を出展させて頂きました。なお、TDK様とは昨年同様ご協力頂き、今年は「D020」を、ハギワラソリューションズ様ブースにも出展させて頂きました。
弊社ブースでは、SSDの電源遮断・瞬停試験、正常なHDDと不具合のあるHDD、高速のSSD(SATA3)のパフォーマンス測定、温度ストレス試験のデモを行いました。昨年同様、多くの方々に見て頂けました。

■ダイチューブース

■TDK様ブース

■ハギワラソリューションズ様ブース

出展製品

HDD/SSD Tester D010

上4つのセルが2.5インチ、下4つのセルが3.5インチのドライブが試験できる混載モデルです。主に、最新SSDのパフォーマンス測定デモを行いました。

HDD/SSD Tester D020

小型軽量2セルタイプのD020です。主に、SATA3対応SSDのパフォーマンス測定、電源遮断・瞬停試験のデモを行いました。

HDD/SSD Tester D030 (新製品)

3.5inch4セルと2.5inch4セルの混載モデルです。温度サイクル、温度ストレス試験のデモを行いました。

HDD/SSD Tester D040 (参考出展)

参考出展として、「試験サービス」、「デュプリケートサービス」、「データ消去」代行サービス用、120セルモデルD040を出展させて頂きました。

関連情報

■製品についての詳細情報

■お問い合わせ

製品に関するお問い合わせはこちらからお願い致します。

■開催概要

名称:第15回 組込みシステム開発技術展 (ESEC)
会期:2012年5月09日(水)~5月11日(金)
   10:00~18:00(13日(金)のみ17:00終了)
会場:東京ビッグサイト  ダイチューブース 小間番号:西10-16
アクセス:会場までのアクセスはこちら
主催:リード エグジビション ジャパン株式会社
入場料:¥5,000(ただし事前登録者、招待券持参者は無料)

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