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ニュースリリース詳細

ESEC2015 ご来場御礼

2015年 5/13(水) ~ 5/15(金):3日間 東京ビッグサイトで開催された、「組込みシステム開発技術展」(ESEC2015)へ出展致しました。皆様より多数のご来場をいただきましたことに、改めて感謝申し上げます。

 

出展報告

組込みシステム開発技術展ESEC (主催 : リードエグジビション ジャパン株式会社) は、組込みシステム開発に必要なハードウェア・ソフトウェア・コンポーネントから開発環境までが一堂に集まる日本最大の専門展です。
ダイチューテクノロジーズでは、SAS12G対応製品を8セルタイプの「HDD/SSD Tester D010」にて、小型軽量2セルタイプの「HDD/SSD Tester D020」、4スロットPCIe SSD対応の製品「HDD/SSD Tester D011P(仮称)」、Intel NUC PCを使用した超小型試験ユニットや、堅牢さを重視したアタッシュケース型試験装置、さらにはオプションの変換アタッチメント各種を出展致しました。

■ ダイチューテクノロジーズブース

 

■ 展示製品


4スロット対応PCIe試験装置(写真中央のラック)。8レーン対応PCIe SSD、4レーン対応PCIe SSD(NVMe)の性能試験を展示。

Seagate社製とIntel社製PCIeSSD(写真右)性能試験が可能。1.7TBの大容量SSDの連続読取試験がグラフに表示されている。モニターの下部の黒い筐体は自社製制御装置部分。

 

Seagate製PCIe SSD
Seagate社製PCIe SSD(Nytro XP6302)
1.75TB SSD。インターフェイスは、x8 PCI Express 3.0対応。
Intel社製 PCIe SSD
Intel社製 NVMe-architected PCIe PC3700シリーズSSD。インターフェイスは、x4 PCI Express3.0 NVMe対応。

 

堅牢アタッシュケース型試験装置
当社開発の堅牢アタッシュケース型試験装置。現場での1次障害解析として使用できる。付属のプリンター付。レポートもその場で印刷できる。セキュリティ管理された大型サーバー室へ持込み、ケースに鍵がかかるので管理がしやすい。
INTEL NUC PC型試験ユニット
INTEL NUC PC型試験ユニット(中央の黒いユニット)。写真はSSDの性能試験を行っている。モニターやキーボードを外せば、SSDのロングラン試験が可能。恒温槽などにデバイスのみを入れて、環境試験も単独で可能となる。
   
 
SAS12G対応のD010シリーズ試験装置。従来のD010 8セル対応の試験装置の筐体を使用してる。右上の白いものは展示用のプロジェクターであり、製品とは関係ない。
     

   

 

 

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