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ニュースリリース詳細

ESEC2012 ご来場御礼

2012年 5/09(水)~5/11(金)東京ビッグサイトで開催された、「組込みシステム開発技術展」(ESEC2012)へ出展致しました。皆様より多数のご来場をいただきましたことに、改めて感謝申し上げます。

 

組み込み開発技術展2012

 

 

 

出展報告

組込みシステム開発技術展ESECは(主催:リード エグジビション ジャパン株式会社)は、組込みシステム開発に必要なハードウェア・ソフトウェア・コンポーネントから開発環境までが一堂に集まる日本最大の専門展です。
ダイチューでは、組み込みに必要なHDDとSSDの試験装置、8セルタイプの「HDD/SSD Tester D010」と小型軽量2セルタイプの「HDD/SSD Tester D020」、今年から販売開始している温度ストレス試験が可能な新製品「HDD/SSD TesterD030CHM」、参考出展としてスクリーニングサービスやコピーサービスに弊社が使用している「HDD/SSD Tester D040」を出展させて頂きました。なお、TDK様とは昨年同様ご協力頂き、今年は「D020」を、ハギワラソリューションズ様ブースにも出展させて頂きました。
弊社ブースでは、SSDの電源遮断・瞬停試験、正常なHDDと不具合のあるHDD、高速のSSD(SATA3)のパフォーマンス測定、温度ストレス試験のデモを行いました。昨年同様、多くの方々に見て頂けました。

■ ダイチューブース

ESEC2010
ESEC2010
ESEC2010
ESEC2010
ESEC2010
ESEC2010


■ TDK様ブース

ESEC2012_TDK
ESEC2012


■ ハギワラソリューションズ様ブース

ESEC2012_ハギワラソリューションズ

出展製品

 

ESEC2010

HDD/SSD Tester D010
上4つのセルが2.5インチ、下4つのセルが3.5インチのドライブが試験できる混載モデルです。主に、最新SSDのパフォーマンス測定デモを行いました。

 

ESEC2010

 

 

HDD/SSD Tester D020
小型軽量2セルタイプのD020です。主に、SATA3対応SSDのパフォーマンス測定、電源遮断・瞬停試験のデモを行いました。

 

ESEC2010

HDD/SSD Tester D030 (新製品
3.5inch4セルと2.5inch4セルの混載モデルです。温度サイクル、温度ストレス試験のデモを行いました。

 

ESEC2010

HDD/SSD Tester D040 (参考出展)
参考出展として、「試験サービス」、「デュプリケートサービス」、「データ消去」代行サービス用、120セルモデルD040を出展させて頂きました。

関連情報

■ 製品についての詳細情報
  ・HDD/SSD Tester D010詳細情報    pdf D010カタログダウンロード
  ・HDD/SSD Tetser D020詳細情報    pdf D020カタログダウンロード
  ・HDD/SSD Tester D030詳細情報    pdf D030カタログダウンロード
  ・TDK様出展報告詳細
  ・TDK様出展製品詳細
  ・ハギワラソリューションズ様出展製品詳細

■ お問い合わせ
  製品に関するお問い合わせはこちらからお願い致します。

■ 開催概要
  名  称:  第15回 組込みシステム開発技術展 (ESEC)
  会  期:  2012年5月09日(水)~5月11日(金)
         10:00~18:00(13日(金)のみ17:00終了)
  会  場:  東京ビッグサイト  ダイチューブース 小間番号:西10-16
  アクセス:  会場までのアクセスはこちら
  主  催:  リード エグジビション ジャパン株式会社
  入場料 :  ¥5,000(ただし事前登録者、招待券持参者は無料)

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